國際電工委員會（IEC）正式發布(bu)《聲表面(mian)波器(qi)件(jian)用單(dan)晶(jing)晶(jing)片規范與(yu)測量方法》（IEC 62276:2025），首(shou)次明確了壓(ya)電材料的(de)光學性能標(biao)準(zhun)。三(san)安(an)濾波器(qi)晶(jing)體團隊(dui)在關于透過率(lv)（晶(jing)片黑(hei)化程度）的(de)相關技術要(yao)求和測量方法上(shang)做出重要(yao)貢獻。泉州三(san)安(an)集成依托(tuo)三(san)安(an)光電的(de)研發制造經驗，持續投入LN/LT壓(ya)電材料制備工藝的(de)研發，在新標(biao)準(zhun)論證過程中提出了多項技術性修(xiu)改(gai)內容(rong)，納入了新標(biao)準(zhun)中主要(yao)的(de)修(xiu)訂(ding)內容(rong)之一。（美(mei)通社）