新型流結構技術可實現實時的芯片健康監測和可靠的終端設備運行

加(jia)利(li)福尼(ni)亞州山景城2022年10月11日 /美(mei)通社/ --（Synopsys, Inc.，納斯達克(ke)股(gu)票代碼：）近日推(tui)出了一項創新(xin)的(de)(de)(de)(de)流(liu)(liu)結構技術（Streaming fabric technology），能夠將芯片(pian)(pian)(pian)數(shu)據(ju)訪問和(he)測(ce)試的(de)(de)(de)(de)時間最高縮短80%，并極(ji)(ji)大(da)程(cheng)度地(di)降低極(ji)(ji)限功耗，從而支持日益復(fu)雜(za)的(de)(de)(de)(de)大(da)型(xing)設計中(zhong)芯片(pian)(pian)(pian)健(jian)康監測(ce)的(de)(de)(de)(de)實(shi)時分析(xi)。作為新(xin)思科技芯片(pian)(pian)(pian)生(sheng)命周期管理流(liu)(liu)程(cheng)的(de)(de)(de)(de)一部分，該創新(xin)的(de)(de)(de)(de)流(liu)(liu)結構是(shi)一種獨特的(de)(de)(de)(de)片(pian)(pian)(pian)上網(wang)絡(luo)，由(you)可測(ce)性設計工具生(sheng)成，可以快速地(di)將芯片(pian)(pian)(pian)數(shu)據(ju)傳輸到多個設計塊和(he)多裸晶芯片(pian)(pian)(pian)系統(tong)中(zhong)，顯(xian)著縮短了測(ce)試和(he)分析(xi)芯片(pian)(pian)(pian)整體健(jian)康狀況以發現(xian)異常和(he)故障的(de)(de)(de)(de)時間。

Enfabrica首(shou)席執行(xing)(xing)官Rochan Sankar表示："Enfabrica正在(zai)打造作為超分(fen)布(bu)式計算系統核心的(de)尖端芯(xin)片，需要行(xing)(xing)業領先的(de)芯(xin)片生命周期管(guan)理技(ji)(ji)術來實現我(wo)們(men)的(de)高質量目標(biao)。與(yu)現有方法相比，新思科技(ji)(ji)的(de)新型流結構技(ji)(ji)術已證實可以大大縮短我(wo)們(men)的(de)設計測試(shi)時間(jian)。我(wo)們(men)對(dui)測試(shi)結果十分(fen)滿(man)意，并期待(dai)在(zai)我(wo)們(men)的(de)芯(xin)片測試(shi)中加以應用。"

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縮短數據傳輸時間以降低測試成本 

確保芯(xin)片的健康和正常(chang)運(yun)行需要持(chi)續訪問和分析芯(xin)片或(huo)多裸晶芯(xin)片系統數(shu)據(ju)，例如工(gong)(gong)藝、電壓(ya)和溫度等參(can)數(shu)。對于大型的先進工(gong)(gong)藝節點設計，工(gong)(gong)程團隊通常(chang)采用分治法，將數(shu)據(ju)訪問集(ji)成到每個(ge)設計模塊中，然后連接(jie)到芯(xin)片級(ji)引(yin)腳(jiao)。

傳統網(wang)絡比較死(si)板，需要(yao)大量的(de)(de)規(gui)劃工作(zuo)(zuo)(zuo)。相比之下，新型流(liu)結構(gou)(gou)(gou)技術(shu)采(cai)用(yong)即插即用(yong)的(de)(de)方(fang)法，可(ke)(ke)(ke)以被編程以適應各模(mo)塊(kuai)(kuai)的(de)(de)速(su)度和數據接口尺(chi)寸，因此只(zhi)需極少(shao)的(de)(de)規(gui)劃工作(zuo)(zuo)(zuo)。為(wei)了不斷減少(shao)繞線，該(gai)結構(gou)(gou)(gou)采(cai)用(yong)小數據接口模(mo)塊(kuai)(kuai)的(de)(de)簡化分(fen)支。這些功(gong)能(neng)(neng)可(ke)(ke)(ke)確(que)保模(mo)塊(kuai)(kuai)級數據訪(fang)問(wen)方(fang)法的(de)(de)物理設計友好性，盡(jin)可(ke)(ke)(ke)能(neng)(neng)地(di)降低(di)工作(zuo)(zuo)(zuo)量，并大幅縮短所需訪(fang)問(wen)時(shi)間(jian)，從而降低(di)測試成本。此外(wai)，該(gai)技術(shu)簡化了分(fen)支連接，可(ke)(ke)(ke)大幅減少(shao)設計的(de)(de)物理影(ying)響，使工程團隊(dui)能(neng)(neng)夠使用(yong)快(kuai)速(su)部署該(gai)新型流(liu)架構(gou)(gou)(gou)。

精準的功耗估算提高數據可靠性 

應(ying)用于(yu)現(xian)場的(de)(de)芯(xin)片或多裸晶芯(xin)片系統的(de)(de)數據（包(bao)括測(ce)試(shi)向量），不(bu)應(ying)導致(zhi)芯(xin)片產(chan)生(sheng)過(guo)多的(de)(de)功(gong)耗(hao)，否則可能會損(sun)壞零件或使結果失(shi)效。相比以前的(de)(de)方法，測(ce)試(shi)向量生(sheng)成解(jie)決方案采用全新功(gong)耗(hao)估算技術，可通過(guo) RTL-to-signoff功(gong)耗(hao)分析技術的(de)(de)結果，更精確地確定在(zai)數據應(ying)用期間的(de)(de)功(gong)耗(hao)，從而緩解(jie)功(gong)耗(hao)下降，避免產(chan)生(sheng)不(bu)正確的(de)(de)芯(xin)片數據結果和(he)損(sun)壞。

新思科(ke)技硬件分析和(he)測試(shi)(shi)團隊高(gao)(gao)級副總裁Amit Sanghani表示(shi)："提(ti)供(gong)高(gao)(gao)效、高(gao)(gao)性價比(bi)的芯片數據訪問是設備在(zai)全生命周(zhou)期(qi)內實(shi)現可(ke)靠(kao)運行的一項基本要求，并且對于任務(wu)關鍵型(xing)應(ying)用能(neng)夠(gou)保持(chi)長期(qi)正常運行時間至關重(zhong)要。新型(xing)流結構技術和(he)更精確(que)(que)的測試(shi)(shi)向量功耗估算功能(neng)，將進一步增強(qiang)我們的芯片生命周(zhou)期(qi)管理系列產品(pin)，確(que)(que)保客(ke)戶在(zai)實(shi)現設計和(he)進度目標(biao)的同時能(neng)夠(gou)實(shi)現這(zhe)些目標(biao)。"

關于新思科技

新思(si)(si)科(ke)技(ji)（Synopsys, Inc.，納斯達克股票代碼：SNPS）是(shi)(shi)眾多創新型公司的(de)(de)Silicon to Software?（"芯片(pian)(pian)到軟(ruan)件"）合作伙伴，這些公司致力于開發(fa)(fa)我們日(ri)常所(suo)依賴(lai)的(de)(de)電子(zi)(zi)產(chan)品和軟(ruan)件應用。作為全球第15大軟(ruan)件公司，新思(si)(si)科(ke)技(ji)長期以來一(yi)直是(shi)(shi)電子(zi)(zi)設計自動化 (EDA) 和半(ban)導體IP領域的(de)(de)全球領導者，并且在(zai)軟(ruan)件安(an)全和質(zhi)量(liang)解決(jue)方(fang)案方(fang)面也(ye)發(fa)(fa)揮著越來越大的(de)(de)領導作用。無論您(nin)是(shi)(shi)先進(jin)半(ban)導體的(de)(de)片(pian)(pian)上系統 (SoC) 開發(fa)(fa)者，還是(shi)(shi)編寫需(xu)要最(zui)高(gao)安(an)全性和質(zhi)量(liang)的(de)(de)應用程序的(de)(de)軟(ruan)件開發(fa)(fa)者，新思(si)(si)科(ke)技(ji)都(dou)能夠(gou)提(ti)供您(nin)所(suo)需(xu)要的(de)(de)解決(jue)方(fang)案，幫(bang)助您(nin)推(tui)出創新性、高(gao)質(zhi)量(liang)、安(an)全的(de)(de)產(chan)品。如需(xu)了解更多信息，請(qing)訪問(wen)

編輯聯系人： Jemie Hong
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