整合 TITAN? 探針技(ji)術與晶圓(yuan)級(ji)測(ce)量專長，開啟(qi)新(xin)一(yi)代半導(dao)體與次太赫茲應(ying)用(yong)精密測(ce)試(shi)新(xin)篇章
新竹2025年9月15日(ri) /美通社/ -- 全球領先的先進半導體測試解決方案廠商旺矽科技股份有限公司（MPI Corporation，以下簡稱“旺矽科技”）宣布，正式推出可支持是德科技（Keysight Technologies，以下簡稱“是德科技”）全新 NA5305A/7A PNA-X 頻率擴頻器的全集成 250 GHz 寬帶測試解決方案。該方案結合旺矽在次太赫茲探測技術與晶圓級測量領域的深厚經驗，搭配 TITAN? 射頻探針及探針臺平臺，提供業界領先的高達 250 GHz 寬帶 S 參數測試能力。
專為是德科(ke)技PNA-X擴頻器打造(zao)的旺(wang)矽TITAN? 250 GHz探針
這一最新(xin)里程碑凝聚(ju)了旺(wang)矽科(ke)技(ji)在高頻測試(shi)領域的(de)(de)深厚(hou)技(ji)術積(ji)累，包(bao)括早期突破(po) 200 GHz 寬帶(dai)探針測試(shi)極(ji)限的(de)(de)解(jie)決方案。同時，這也(ye)彰(zhang)顯了與(yu)是德科(ke)技(ji)的(de)(de)深度合(he)作，通過將業界領先的(de)(de)測試(shi)儀器與(yu)旺(wang)矽先進的(de)(de)晶圓級測試(shi)方案相(xiang)結合(he)，以滿足快速增長的(de)(de)次太赫茲測試(shi)需求。
旺矽科技先進半導體測試（AST）事業部總經理 Stojan Kanev 表示：
“旺(wang)矽是首家實現高達 250 GHz 實時單次掃(sao)描校準，并支持單端/差(cha)分晶(jing)圓級測(ce)試的(de)企業。這一成(cheng)就建立在(zai)我們在(zai) 200 GHz 以(yi)上(shang)寬帶晶(jing)圓特(te)性表征領域多年驗(yan)證的(de)解決方案與卓越業績(ji)之上(shang)。全(quan)新的(de) 250 GHz 解決方案結合 TITAN? 探針技術(shu)與系統(tong)集成(cheng)優(you)勢，能夠提(ti)供穩定(ding)可(ke)重復的(de)測(ce)試結果、清晰的(de)探針尖(jian)端可(ke)見性，以(yi)及確保(bao)安全(quan)簡便(bian)操作(zuo)的(de)保(bao)護設(she)計，幫(bang)助工(gong)程師節省時間(jian)、保(bao)護系統(tong)并實現最(zui)佳性能。”
專為次太赫茲精度打造
該250 GHz解決方案包括旺矽科技TITAN?單端式T250MAK與差分式T250MSK探針，采用全新 0.5 毫(hao)米寬帶同軸接口，分別針(zhen)對寬帶器件表征(zheng)與高速差分測試而(er)設計。探針(zhen)具備以下特(te)點：
TITAN? T250系列探針可與旺矽科技全系列探針臺平臺完(wan)美集成(cheng)，支持溫控(kong)晶圓級測量，最(zui)大程度減少人工操作，確保系(xi)統(tong)的最(zui)佳重復性。
是德科技觀點
是德科技產品經理 David Tanaka 表示：“旺矽科技在高頻晶圓探針技術的持續創新，對擴展我們寬帶矢量網絡分析儀平臺的測試能力至關重要。他們的 TITAN? 探針提供了實現我們 250 GHz 解決方案所需的精度、重復性和系統級集成能力。本次合作將有助于我們因應日益增長的次太赫茲先進測試需求。”
滿足半導體創新者不斷演進的技術需求
隨著(zhu)人(ren)工智能(neng)、5G/6G 及高速光(guang)通信推動半(ban)導體性能(neng)不(bu)斷(duan)提(ti)升，測(ce)試測(ce)量工具必須同步演進。旺矽科技 250 GHz 寬帶測(ce)試系統(tong)應(ying)運而生，具備以下優勢(shi)：
旺矽科技(ji)最新解決方案已在(zai)多家核(he)心客戶與(yu)(yu)合(he)作伙伴的評估環境中(zhong)部署，并在(zai)臺(tai)灣地區與(yu)(yu)美國設有演示系統。該解決方案計(ji)劃于 2025 年在(zai)荷(he)蘭(lan)烏得(de)勒支舉(ju)辦的歐洲微波周（EuMW）上全(quan)球(qiu)首發并進行現場演示。
