針對硅片和電池廠商以及光伏研發人員推出了兩個系列的新軟件升級產品
悉尼2014年5月16日電 /美通社/ -- BT imaging 將在2014年5月20日到22日參加于上海舉辦的第八屆 SNEC 國際太陽能產業及光伏工程展。展位是 E3 大廳225號。BT imaging 此次推出了兩個系列的新軟件升級產品，可用于對線下 PL 檢測設備 LIS-R2 和在線 PL 檢測設備 QS-W2 的可選性升級。LIS-R2 軟件升級著重于給研發者和工程師迄今為止都無法得到硅片和電池的信息。QS-W2 著重于幫助硅片和電池廠商減少成本和提升電池效率。
“我們一向把每年上海 SNEC 展會當成光伏界重要的事件來對待。我們也很高興 SNEC 展會的時間恰好是我們想發布我們新產品的時間，”BT imaging 的 CEO Ian Maxwell 說道。“自從 BT imaging 過去參加了 SNEC 展會，我們一直致力于提升我們現有的產品。我們將要模擬展示的新軟件升級產品是我們多年研發的積累。我們認為我們的客戶將會對這些新升級軟件非常興奮。”
除了這些發布以外，BT imaging 也將會強調介紹現有的兩款穩定的產品 LIS-R2 和 QS-W2。產品 LIS-R2 是頂級的線下實驗室測量設備，擅長測量硅錠、硅片、電池和組件。此產品就像多功能瑞士軍刀一樣，集合了多種測量功能于一身并且容易使用。它適合用于研發、質量檢測、全程質量監控、工藝除錯、工藝改良和試運行。產品 QS-W2 是世界頂級的 PL 硅片在線檢測系統。有別于其他產品，QS-W2 是被產品證明為有效的硅片分選和效率預測設備。
如需了解更多 BT imaging 的新產品和服務，歡迎前來參加2014年5月20日到22日第八屆于上海舉辦的 SNEC 國際太陽能產業及光伏工程展。展位是 E3 大廳225號。獲取更多信息，請到訪 。
