桃園2018年(nian)3月5日電 /美通社/ -- 致茂電子為量測&智動(dong)化Turnkey解(jie)決(jue)方案領(ling)導(dao)廠商，將于3月上(shang)海SEMICON China展出最新的半導(dao)體測試(shi)解(jie)決(jue)方案，搶攻IoT及智慧汽(qi)車電子晶片市場。

Chroma 3680全方位高(gao)精度(du)/高(gao)效能SoC測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)系(xi)統，可提供高(gao)達2048個(ge)I/O通(tong)道(dao)且數(shu)(shu)位通(tong)道(dao)速率(lv)(data rate)較高(gao)可達1Gbps的(de)資料速率(lv)(data rate)、較高(gao)512個(ge)平行測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)待(dai)測(ce)(ce)(ce)(ce)物的(de)能力及512MW測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)資料記憶體深度(du)，以提供較低的(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)成本且滿足復雜SoC的(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)應(ying)用需(xu)求。應(ying)用范(fan)圍包含微控制器(MCU)、數(shu)(shu)位音訊、數(shu)(shu)位電視、機頂盒(he)、數(shu)(shu)位信號(hao)處理器(DSP)、網路處理器(Network Processor)、現場(chang)可程式邏輯門陣(zhen)列(FPGA)及消費性電子IC應(ying)用市場(chang)等測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)方案。

HDAVO(High Density Audio Video Option) 高(gao)(gao)性能混和(he)訊(xun)(xun)(xun)號(hao)解決方案，為Chroma 3680的(de)選(xuan)購(gou)模(mo)(mo)(mo)組(zu)(zu)，擁有可(ke)同(tong)時輸(shu)出的(de)8個(ge)差(cha)動源模(mo)(mo)(mo)組(zu)(zu)(AWG)和(he)同(tong)時接(jie)收的(de)8個(ge)差(cha)動測量模(mo)(mo)(mo)組(zu)(zu)(DGT)，且在(zai)每(mei)一(yi)個(ge)差(cha)動源模(mo)(mo)(mo)組(zu)(zu)(AWG)上能提供(gong)高(gao)(gao)達400Msps的(de)取樣頻(pin)(pin)率和(he)在(zai)每(mei)一(yi)個(ge)差(cha)動測量模(mo)(mo)(mo)組(zu)(zu)(DGT)上能提供(gong)高(gao)(gao)達250Msps的(de)取樣頻(pin)(pin)率，具有高(gao)(gao)規格(ge)、低成本和(he)多功能等(deng)優勢，適(shi)用(yong)于(yu)標準的(de)基頻(pin)(pin)、視訊(xun)(xun)(xun)、音(yin)訊(xun)(xun)(xun)、圖形、STB以及DTV等(deng)廣泛的(de)混合訊(xun)(xun)(xun)號(hao)測試應(ying)用(yong)。

搭配(pei)于3680上所開發的(de)CRISPro軟(ruan)體套件，讓使(shi)用(yong)者(zhe)可以(yi)用(yong)圖形化介(jie)面(GUI)或(huo)程式(shi)語言做(zuo)測(ce)試(shi)程式(shi)的(de)開發，加上支(zhi)援可同時測(ce)試(shi)(Concurrent Testing)的(de)功能(neng)，以(yi)降(jiang)低測(ce)試(shi)程式(shi)的(de)時間，加快產(chan)品的(de)量產(chan)速度(du)。

Chroma 33010 PXIe 數位 IO Card：為PXIe 架構(gou)，且具備自動(dong)測(ce)試(shi)系(xi)統(ATE)功能，Chroma除提供傳統之(zhi)ATE自動(dong)測(ce)試(shi)系(xi)統(Chroma 3380D：256 CHs / 3380P：512 CHs / 3380：1280 CHs ) 外，亦(yi)提供符合未來(lai)PXI 測(ce)試(shi)方案發展應用(yong)之(zhi)趨(qu)勢及(ji)需求，以因應未來(lai)更小IC通道及(ji)愈(yu)趨(qu)復雜功能之(zhi)趨(qu)勢，尤其(qi)在 IoT 及(ji)車用(yong)感測(ce)IC測(ce)試(shi)上(shang)，PXI/PXIe架構(gou)在半(ban)導體測(ce)試(shi)無論在應用(yong)多變和(he)彈(dan)性上(shang)都有(you)一定優勢。應用(yong)范圍(wei)包(bao)含微(wei)控制器(qi)、微(wei)機電(MEMS)感測(ce)器(qi)、射頻IC(RF IC) 及(ji)電源IC (PMIC) 等測(ce)試(shi)方案。

Chroma 3200L-6光(guang)纖DC/RF測(ce)(ce)試系統，應(ying)用于光(guang)學(xue)模(mo)組(OSA, box package)的DC與(yu)(yu)RF檢測(ce)(ce)，具備(bei)光(guang)纖自動清潔與(yu)(yu)檢測(ce)(ce)、光(guang)纖視覺(jue)定位與(yu)(yu)自動插拔、探針(zhen)視覺(jue)定位與(yu)(yu)接(jie)觸控(kong)制，探針(zhen)重(zhong)復精準度可達正負40um，支援工程(cheng)實驗單站式(shi)與(yu)(yu)量產整線(xian)式(shi)兩(liang)種模(mo)式(shi)，提高導入彈(dan)性(xing)，大(da)幅降低人(ren)力與(yu)(yu)測(ce)(ce)試損(sun)耗成本。

Chroma半導(dao)體(ti)測(ce)(ce)試設備(bei)整合MP5806 射頻(RF) ATE測(ce)(ce)試專用機，涵蓋6GHz范圍內的(de)無(wu)線(xian)測(ce)(ce)試規范，擁有4/8 RF Port及(ji)120MHz 頻寬(kuan)。應(ying)用范圍包(bao)含WiFi/BT/GNSS/NB-IoT/LoRa等無(wu)線(xian)通訊與IoT應(ying)用及(ji)RF元(yuan)件測(ce)(ce)試( PA/LNA/Converter等)，提供RF/Digital全(quan)方位ATE(CP/FT/SLT)測(ce)(ce)試解決方案。

2018 SEMICON China (3月14-16日)，致茂電子將于上海新國際博覽中心（SNIEC）（攤位號: 3165）展出嶄新的半導體測試解決方案，致茂電(dian)子誠(cheng)摯的邀(yao)請您一同體驗量測新趨勢，期待在此(ci)年度盛(sheng)會中與您見面。