桃園2018年9月5日電 /美通社/ -- 致茂電子在半導體測試領域擁有眾多產品線，從研發至量產階段所需之設備，包括ATE大型測試系統、IC分選機以及PXI/PXIe小型化測試平臺，皆有完整相對應產品提供客戶最適合的選擇，致茂集團更增加半導體前端制程的溶液監測與可符合趨勢應用的AIoT連接測試解決方案。今年于(yu)SEMICON Taiwan將會實機展出(chu)SuperSizer溶(rong)液奈米粒(li)子監測(ce)系(xi)統，現場可(ke)親(qin)自體(ti)驗鷹(ying)眼級的測(ce)試設備。

鷹眼級SuperSizer溶液奈米粒子監測系統

半導體制程技術以極快的速度進步到10奈米、7奈米線寬，在不久的將來更將到5奈米甚至于3奈米。影響制程良率甚鉅的奈米粒子監控技術現有技術只能勉強監控大于20奈米的粒子，遠遠不及產線需求。致茂集團旗下的兆晟奈米科技推出制程良率改善利器SuperSizer奈米粒子監測系統，提供客戶對制程液體里小于20奈米的粒子大小及分布，并具有24小時即時監控的能力，能有效防范奈米缺陷形成于未然，大幅改善良率。

專為智慧連網所需的SoC測試系統

隨著智慧(hui)連網(wang)家(jia)(jia)(jia)庭市場(chang)的(de)(de)發展，要讓(rang)住家(jia)(jia)(jia)變得(de)更(geng)聰明、更(geng)方便，關鍵在于人工智慧(hui) (AI) 資料分析技術、大數(shu)據 (big data) 的(de)(de)統計、語音 (Audio) 辨識系統、以及提升家(jia)(jia)(jia)庭網(wang)路連線的(de)(de)技術與(yu)安全性(xing)。致(zhi)茂電子近年積極發展專為智慧(hui)家(jia)(jia)(jia)庭生態系統所需(xu)的(de)(de)SoC晶片(pian)的(de)(de)測試(shi)設備，持續推(tui)出(chu)整合(he)性(xing)更(geng)高的(de)(de)量測解決方案，以提供較(jiao)低的(de)(de)測試(shi)成本且滿足復雜SoC的(de)(de)測試(shi)應用需(xu)求(qiu)。

HDAVO (High Density Audio Video Option) 高(gao)(gao)性能混和訊號解決方案，為針對語音 (Audio) 辨識(shi)系的(de)(de)SoC 所提供的(de)(de)高(gao)(gao)效能、高(gao)(gao)通道、高(gao)(gao)平行(xing)數的(de)(de)選購模(mo)組(zu)，擁有可同(tong)時輸出的(de)(de)8(16)個(ge)差動(dong)源(yuan)模(mo)組(zu) (AWG) 和同(tong)時接收(shou)的(de)(de)8個(ge)差動(dong)測量(liang)模(mo)組(zu) (DGT)，且在每一個(ge)差動(dong)源(yuan)模(mo)組(zu) (AWG) 上(shang)能提供高(gao)(gao)達400Msps的(de)(de)取樣(yang)頻率和在每一個(ge)差動(dong)測量(liang)模(mo)組(zu) (DGT) 上(shang)能提供高(gao)(gao)達250Msps的(de)(de)取樣(yang)頻率，具有高(gao)(gao)規格、低(di)成本和多功(gong)能等優勢，甚至能因(yin)應未來5G基頻晶片所需的(de)(de)I/Q訊號的(de)(de)產生與開(kai)發導入。搭配CRISPro 軟(ruan)體套件，讓使(shi)(shi)用(yong)者可以(yi)用(yong)圖(tu)形化介面 (GUI) 或程(cheng)(cheng)式語言(yan)做(zuo)測試程(cheng)(cheng)式的(de)(de)開(kai)發和除錯 (debug) ，讓使(shi)(shi)用(yong)者能更快完成程(cheng)(cheng)式的(de)(de)開(kai)發與導入量(liang)產。

IoT連接測試解決方案

Adivic MP5806 RF ATE測(ce)試(shi)(shi)方(fang)案，為致茂集團旗下的匯宏科技產(chan)品，針對 Chroma 半導體測(ce)試(shi)(shi)設(she)備(VLSI / SoC測(ce)試(shi)(shi)系統)，客戶在既有(you)的數位/類比/混(hun)合(he)訊(xun)號IC應用(yong)下，皆(jie)可經(jing)由選配添購(gou)Adivic MP5806，將測(ce)試(shi)(shi)設(she)備擴(kuo)充(chong)為俱備完整的射頻(pin)晶片測(ce)試(shi)(shi)方(fang)案，可支援包(bao)含(han)NB-IoT、GPS/BeiDou、Wi-Fi、Bluetooth與(yu)Tuner等各主(zhu)要物(wu)聯網 (IoT) 通(tong)訊(xun)標(biao)準(zhun)，其所內含(han)的10MHz~6GHz全頻(pin)域覆蓋之超(chao)高頻(pin)寬VSG/VSA模組(zu)，更可泛用(yong)于未來各式無(wu)線通(tong)訊(xun)標(biao)準(zhun)。

具備ATE功能的PXIe數位I/O卡

Chroma 33010為具有自動測(ce)(ce)試(shi)(shi)系統(ATE)功(gong)能的PXIe 架構PE card  ，除傳統ATE測(ce)(ce)試(shi)(shi)系統（Chroma 3380D - 256通(tong)(tong)道 、Chroma 3380P - 512通(tong)(tong)道 、Chroma 3380 - 1024通(tong)(tong)道）外，Chroma 33010更符合PXI 測(ce)(ce)試(shi)(shi)方案(an)發(fa)展(zhan)應用之趨(qu)勢(shi)(shi)及需求，以(yi)因(yin)應未來(lai)更小(xiao)IC通(tong)(tong)道及愈趨(qu)復雜(za)功(gong)能之趨(qu)勢(shi)(shi)，尤其在IoT 及汽車電子 IC測(ce)(ce)試(shi)(shi)上， PXI/PXIe架構在半導體測(ce)(ce)試(shi)(shi)無論在應用多變(bian)和彈性上都有一定(ding)優勢(shi)(shi)。應用范圍包含微(wei)控制器(qi)(MCU)、微(wei)機電(MEMS) 、射頻IC(RF IC) 及電源(yuan)IC (PMIC) 等(deng)測(ce)(ce)試(shi)(shi)方案(an)。

SEMICON Taiwan (9月5-7日(ri))，致茂(mao)電子(zi)將(jiang)于臺(tai)北南港(gang)展覽(lan)館一館（攤位號：K2785）展出最新的(de)(de)(de)半導(dao)(dao)體測試(shi)解(jie)決(jue)方(fang)(fang)案，我們也(ye)將(jiang)提供客制(zhi)化半導(dao)(dao)體/IC測試(shi)解(jie)決(jue)方(fang)(fang)案以滿足您(nin)的(de)(de)(de)特殊(shu)需求。我們相信，您(nin)將(jiang)會(hui)有(you)全新的(de)(de)(de)體驗(yan)與(yu)意想(xiang)不到(dao)的(de)(de)(de)收獲。有(you)您(nin)的(de)(de)(de)支持(chi)，致茂(mao)才能(neng)更加茁(zhuo)壯，期待(dai)在(zai)本年度(du)盛會(hui)中與(yu)您(nin)見面。

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